Двулучевой сканирующий электронный микроскоп DB-50

Двулучевые микроскопы

Мелитэк поставляет двулучевые электронные микроскопы, предлагая передовые решения для высокоточных исследований и анализа. Двулучевой электронный микроскоп Melytec сочетает в себе лучшие характеристики сканирующих электронных микроскопов и является универсальным инструментом для выполнения широкого спектра задач.

Преимущества двулучевых электронных микроскопов Melytec:

-Высокая точность и разрешение: Благодаря электронным пушкам высокого разрешения и уникальному набору детекторов, наши микроскопы обеспечивают детализированные изображения и точные результаты анализа.

-Широкие аналитические возможности: Микроскопы Melytec позволяют проводить структурный и элементный анализ материалов, выявлять дефекты и включения на микро- и наноуровне, что критически важно для металлографии, металлообработки и других научных и производственных направлений.

-Динамические эксперименты in-situ: Возможность проводить эксперименты в реальном времени позволяет получать исключительные результаты и решать самые сложные задачи в материаловедении и биологии.

Применение двулучевых электронных микроскопов:

-Металлография: Анализ структуры и элементного состава материалов, выявление дефектов и включений.

-Материаловедение: Исследование свойств и поведения различных материалов на микро- и наноуровне.

-Биология: Изучение биологических образцов с высокой детализацией и точностью.

Двулучевые электронные микроскопы Melytec зарегистрированы в реестре СИ РФ, что подтверждает их соответствие высоким стандартам качества. Мы также обеспечиваем полное гарантийное и постгарантийное обслуживание, обучение сотрудников и профессиональные консультации.

DB-50 - это двулучевой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом c термополевой эмиссией типа Шоттки. Прибор обладает широкой вакуумной камерой и большим предметным столом, удобной оптической навигацией по образцам, имеет широкий выбор детекторов, а также порты для установки различного дополнительного аналитического оборудования и проведения динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, сжатие, растяжение и т.д.).

Усовершенствованная конструкция корпуса объектива, высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низкой аберрацией и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения высоким разрешением на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов. 

Ионная колонна (ФИП)  не только дает возможность получения кросс-секций, но и при наличии наноманипулятора (опция) позволяет готовить ПЭМ-образцы с высокой степенью локализации исследуемых объектов, с их последующим их анализом как локально с помощью СПЭМ-детектора (опция), так и удалённо на ПЭМ сверхвысокого разрешения. 

Оптическая навигация, функции автоматизации, хорошо продуманный пользовательский интерфейс, оптимизированные рабочие процессы -  даже при отсутствии у вас опыта эксплуатации прибора, вы можете быстро приступить к работе и выполнять исследовательские задачи с гарантированно качественным результатом.

Основные преимущества:

-ФИП высокого разрешения для получения кросс-секций и изготовления ПЭМ-образцов;

-изображения с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении;

-электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;

-большая рабочая камера;

-навигационная камера уже в базовой комплектации;

-регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;

-системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.

-Тип микроскопа -Двулучевой

-Тип катода -Термополевой катод типа Шоттки

-Пятиосевой моторизованный -Нет

-Пятиосевой моторизованный эвцентрический -Есть

-Двухосевой моторизованный -Нет

-Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли -Есть

-Навигационная камера высокого разрешения -Есть

-Интегрированная система измерения тока луча -Есть

-Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) -Нет

-Внутрилинзовый детектор -Есть

-Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) -Опция

-Детектор прошедших электронов (STEM) -Опция

-Детектор для катодолюминесценции (CL) -Опция

-Детектор Raman -Опция

-ЭДС -Опция

-ДОРЭ -Опция

-ВДС -Опция

-Низкий вакуум, Па -Нет

-Безмасляная вакуумная система -Есть

-Литография -Опция

-Крио-СЭМ -Опция

-Манипулятор -Опция

-Зондовые станции -Опция

-Панель управления микроскопом -Опция

-Трекбол -Опция

-Столик для охлаждения -Опция

-Столик для нагрева -Опция

-Столик для растяжения/сжатия -Опция

-Вакуумный шлюз -Опция

-Функция замедления пучка -Есть