Микроскоп атомно-силовой Brisk сканирующий зондовый

Микроскоп атомно-силовой Brisk Ara Research Co, сканирующий зондовый. Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - это метод исследований объектов в нанодиапазоне, за пределами разрешения оптической микроскопии, в том числе позволяющий получать помимо топографии поверхности дополнительную полезную информацию, характеризующую исследуемый образец. Атомно-силовой микроскоп (AFM) Brisk способен анализировать разнообразные характеристики образца в наномасштабе, а также выполнять функции наноманипулятора и проводить нанолитографию. Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет на конце очень острый зонд «иголку». Острие зонда, характерный размер которого у большинства коммерческих кантилеверов не более 10 нм, подводится на очень близкое к поверхности образца нанометровое расстояние. Когда зонд движется вдоль поверхности образца, Ван-дер-Ваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным по оси Z смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от обратной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёх-секционный фотодиод. Отклонения от секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.